SJT 10818-1996 半导体集成非线性电路数字／模拟转换器和模拟／数字转换器测试方法的基本原理
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ID： |
81277FC6C51F401883500811C7A8094E |
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文件大小(MB)： |
1.19 |
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20 |
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日期： |
2024-7-28 |
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UDC 621.3.049.774 ： 621.317.08,L56,rtt隹人民共和国,GB 7015—86,降为 SJ/T 10818-96,半导体集成非线性电路数字/,模拟转换器和模拟/数字转换器,测试方法的基本原理,General principles of measuring methods,of D/A and A/D converters for semiconductor,non - linear integrated circuits,1986 -11 - 18 发布1987 -08 - 01 实施,南宾林;佳局批准,中华人民共和国国家标准,半导体集成非线性电路数字/,模拟转换器和模拟/数字转换器,UDC 621.3.049,.774 : 621.317,08,7015—86,测试方法的基本原理,General principles of measuring methods,of D/A aitd A/D c.nverters for semiconductor,non - linear integrated circuits,本标准规定了具有线性转换特性的集成数字/模拟转换器（以下简称DAC）和模拟/数字转换器,（以下简称ADC）主要静态特性测试方法的基本原理,凡与数字集成电路有相同定义的电特性,其测试方法的基本原理按下列标准的有关规定:,GB 3439-82《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》r,GB 3441-82《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》,GB 3834 —83《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》〇,凡与模拟集成电路有相同定义的电特性,其测试方法的基本原理按GB 3442—82《半导体集成电,路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》的有关规定,若无特殊说明,本标准涉及的逻辑均为正逻辑,总的要求,1.1 若无特殊说明,测试期间,环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细规范的规定,1.2 测试期间应避免外界干扰对测试精度的影响。测试设备引起的测试误差应符合器件详细规范,的规定,1.3,1.5,1.8,被测DAC和ADC与测试系统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件丒,测试期间应不出现自激现象,测试电流输出的DAC时,应外加运算放大器,测试双极型DAC和ADC时,应按采用的码制调整数码,测试期间应避免因静电感应而引起被测DAC和ADC失效,2 DAC的特性测试,2.1失调号,2.1.1 定义,模拟输出电压的实际起始值与理想起始值之偏差,2.1.2 测试原理图,的测试原理I 如图!所示,■cHi 家标准局1986 -11 - 18发布1987 -08 - 01 实施,1,GB rois—8?,参考电源电源,MS B,输入数字设定,被测dac,LSB * la 数字电压表,GNDb GN Da,图1,2.1.3测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a.,b.,环境温度,d,e,电源电压,参考电压,输出端负载电阻5,数字输入端逻辑电平,2,2,2,2,2,4,4.1,4.2,4.3,4.4,测试程序,在规定的环境温度下,将被测DAC接入测试系统中,施加规定的电源电压和参考电压,在数字输入端施加规定的逻辑电平（全“。カ码）〇,在模拟输出端测得电压ダ0,由下式计算求出,Eo エ為. X 100 (%FSR ),V FSR,或あ=^^ (LSB) y LSB,2.2失调温度系数。Bo,2.2.1 定义,在规定的温度范围内, 单位温度变化所引起失调的变化,2.2.2 测试原理图,%。的测试原理图如I 1所示,2.2.3 测试条件,测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a. 环境温度,b.电源电压ず,c.参考电压,d丒输出端负载电阻,*为理想模拟电压范围,* . Pl”为单位数码变化所对应的模拟量的变化,2,GB 7015—88,e丒数字输入端逻辑电平,2.2.4测试程序,2.2.4.1在规定的环境温度(T,)下,按本标准第2.1.4款的规定测得E 〇（ ti）（%FSR ） 〇,2.2.4.2在规定的环境温度(T2)下,按本标准第2.1.4款的规定测得E 〇 < T2）（ %FSR ） 〇,由下式计算求出へ0：,初; 乌号二か二 X 104 (ppm FSR/C),2 一 ， I,2.3增益误差Eg,2.3.1 定义,转换特性曲线的实际斜率与理想斜率之偏差,2.3.2 测试原理图,Eg的测试原理图如图2所示,参考电源电源,MSB 4,输入数字设定,被测dac,失调调节,2.凱3测试条件,2,2,2,2,2,2,2,LSB,GNEb GNDa,图2,测试期间タ下列测试条件应符合器件详细规范的规定G,a,8,8,8,4,4,4,环境温度,电源电压§,参考电压,输出端负载电阻ナ,数字输入端逻辑电平,测试程序,在规定的环境温度下,将被测DAC接入测试系统中,2 数字电压表,3,3,4,2,3,4,施加规定的电源电压和参考电压,在数字输入端施加规定的逻辑电平(全“0”码),将失调反调整为零,在数字输入端施加规定的逻辑电平(全“1”码),3.4 6 在模拟输出端测得电压ダ￡sr,由下式计算求出Eg：,Eg = V FSR - FSR,V FSR,x 100 （%FSR）,GB 7015—SB,或Eg二,片SR - Vfsr,V LSB,(LSB),2.3.5注意事项,对于失调￡）不可调的DAC,在计算氏时应从ドEsr中减去失调上,2.4增益误差温度系数aEG,2.4.1 定义,在规定的温度范围内,单……
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